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    JTAG(Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP （ Test Access Port ，测试访问口），通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线：TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。

Test Mode Selection Input (TMS)

TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。

Test Clock Input (TCK)

TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。TCK在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。

Test Data Input (TDI)

TDI是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。TDI在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。

Test Data Output (TDO)

TDO是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。TDO在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。

一个含有JTAG Debug接口模块的CPU，只要时钟正常，就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）内置模块的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。上面说的只是JTAG接口所具备的能力，要使用这些功能，还需要软件的配合，具体实现的功能则由具体的软件决定。     

目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。

14针JTAG接口定义引脚名称描述 

    1 、 13 VCC 接电源

    2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地     

    3 nTRST 测试系统复位信号     

    5 TDI 测试数据串行输入     

    7 TMS 测试模式选择     

    9 TCK 测试时钟     

    11  TDO 测试数据串行输出     

    12  NC 未连接

20针JTAG接口定义引脚名称描述 

    1  VTref 目标板参考电压，接电源  

    2 VCC 接电源     

    3 nTRST 测试系统复位信号     

    4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 接地     

    5 TDI 测试数据串行输入     

    7 TMS 测试模式选择     

    9 TCK 测试时钟     

    11 RTCK 测试时钟返回信号     

    13 TDO 测试数据串行输出     

    15 nRESET 目标系统复位信号     

    17 、 19 NC 未连接

常用的Jtag调试工具