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JTAG接口20针、14针、8针的制作及重要信号定义

2018年08月26日 ⁄ 综合 ⁄ 共 993字 ⁄ 字号 评论关闭

相信与硬件打交道的朋友对JTAG接口一定不会陌生。JTAG(Joint Test Action Group,联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议,用于系统仿真、调试及芯片内部测试。它通过访问芯片内部封装好的测试电路TAP(Test Access Port,测试访问端口)来实现。目前大多数的芯片都支持JTAG协议,这样通过JTAG的仿真测试可便于研发人员的开发调试。

 

目前JTAG接口有两种连接标准:14针接口及20针接口。接口定义如下所示。

14针接口定义:

引脚定义

引脚功能

1、13

VCC,连接电源输入

2、4、6、8、10、14

GND,连接电源地

3

NTRST系统复位信号

5

TDI测试数据串行输入

7

TMS测试模式选择

9

TCK测试时钟信号

11

TDO测试数据串行输出

12

未连接

20针接口定义:

引脚定义

引脚功能

1

目标板参考电压

2

VCC 电源输入

3

NTRST测试系统复位信号

4、6、8、10、12、14、16、18、20

GND 连接电源地

5

TDI测试数据串行输入

7

TMS测试模式选择

9

TCK测试时钟信号

11

RTCK测试时钟返回信号

13

TDO测试数据串行输出

15

NRESET目标系统复位信号

17、19

未连接

对于开发板上元器件的JTAG接口,较多采用MOLEX的8针连接器,其体积较小,便于集成电路设计且功能齐全,其接口一般如下所示:

引脚定义

引脚信号

1

+3V3

2

NTRST

3、6

3V3GND

4

TDO

5

TDI

7

TMS

8

TCK

对于连接器的转换,可通过将相应的引脚进行连线即可。

NTRST:此信号可对TAP控制器进行复位,但并非强制要求。通过TMS选择特定的时序亦可实现TAP控制器的复位操作。

TDO:此信号必不可少。TDO为数据输出接口,所有测试芯片内部特定寄存器的数据输出均是通过TDO接口由TCK驱动实现串行输出。

TDI:此信号必不可少。TDI为数据输入接口,所有需要输入测试芯片内部特定寄存器的数据均是通过TDI接口由TCK驱动实现串行输入。

TMS:此信号必不可少。TMS用来控制TAP控制器各个状态之间的转换,通过TMS控制信号可实现TAP控制器不同状态之间的转变。

TCK:此信号必不可少。TCK为TAP控制器提供时钟信号。TAP控制器的所有操作都是由TCK时钟信号驱动。

在14针及20针的接口定义中,之所以出现多个引脚地的定义,应该是为增强信号的抗干扰能力。

 

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